ICHIMURA, Koji
技術専門職員
居室: 理学部1号館837(火・水・金)
理学部3号館009(月・木)
電話: 03-5841-4557 (理学部1号館)
03-5841-4319 (理学部3号館)
メールアドレス: ichimura(@eps.s.u-tokyo.ac.jp)
共用分析機器の保守管理およびその分析技術の指導
本専攻の基礎的なデータの一つとして、岩石や鉱物、隕石等の組成や構造を調べることが挙げられます。私は、固体試料の表面に電子線を照射して微細構
造を調べるための装置(走査電子顕微鏡[SEM]、透過電子顕微鏡[TEM]および微小領域の化学組成を調べるためのX線組成分析器)、試料にイオンビー
ムを照射して放出される二次イオンの質量分析を行うことで、微量元素の組成や元素(同位体)分布等を調べるための装置(二次イオン質量分析計
[SIMS])の維持・管理を行っています。また、これらの装置の利用者に分析技術を教えています。