本専攻において、とくに共用性の高い分析装置等を専攻共用機器として定め、専攻としてその維持・運営に努めているものです。2014年4月時点で下のような9台の機器があります(各機器名のところに簡単な説明が貼られています)。より詳しい説明や詳細は装置担当者にお問い合わせください。
本専攻に所属する学生(両学科生を含む)及び本専攻の基幹講座に所属する教職員・研究員ならば誰でも使えます。但しセルフユーズにはそれなりの教育が必要です。(一部セルフユーズができない機器もあります。)
なお、専攻共用機器は本専攻外の人も利用資格を有しますが,利用する前に装置担当者にお問い合わせください。
専攻共用機器の使用には使用料が発生し、研究員や学生が使用する場合は、所属する研究室の教員に課金されます。また機器担当者にオペレーションを依頼する場合には、その分の課金も行われます。そのため、教員以外の方が使用される場合は必ず、所属する研究室の教員に相談してから使用するようにしてください。各機器の使用料については担当者にお尋ねください。
機器番号 | 機器名 | 主担当者 | 内線 | アドレス* |
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1 | 多試料測定用X線粉末回折装置(XRD) | 小林 明浩 | 24557 | akobayashi |
2 | X線粉末回折装置(XRD) | 市村 康治 | 24557 | ichimura |
3 | 高分解能電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM) | 市村 康治 | 24557 | ichimura |
4 | 分析用電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM) | 吉田 英人 | 24528 | yoshida |
5 | 電子線マイクロアナライザー(EPMA) | 吉田 英人 | 24528 | yoshida |
6 | 電界放出型電子線マイクロアナライザー(FE-EPMA) | 市村 康治 | 24557 | ichimura |
8 | 安定同位体比質量分析計(IS-MS) | 小林 明浩 | 24557 | akobayashi |
9 | レーザーアブレーション-プラズマイオン源質量分析計(LA-ICPMS) | 小林 明浩 | 24557 | akobayashi |
*: 各アドレスの後ろに@eps.s.u-tokyo.ac.jpをつけて下さい。