分析用電界放射型走査電子顕微鏡 (FE-SEM)
共用機器番号：4
装置名：
後方散乱電子線回折装置つき電界放射型走査電子顕微鏡 JEOL JSM-7000F
設置場所：
理学部1号館中央棟 地下2階 B238室 「走査電子顕微鏡室」
原理と特徴：
電界放射型走査電子顕微鏡は，高真空で試料に電子線を試料表面照射，走査し，発生する2次電子や後方散乱電子などを検出器にとらえ， 数10ナノメートル程度までの分解能で，試料の表面状態や形状，密度などの情報を面的にとらえるための装置である．主に岩石や鉱物の微細組織の観察に用いられる．エネルギー分散型分光計の併用により，局所あるいは2次元的な多元素の分布を知ることができる．さらに，後方散乱電子線回折は，微細領域における結晶の方位を決定することのできる装置である．この装置により，微細領域の化学的・岩石・鉱物構造的情報をえることができるため，地球や惑星， 隕石などの試料，あるいは実験により合成された物質の構造，化学的特徴などを知ることに応用されている．本装置は2005年4月に導入されたばかりの装置であるため，当面，主に科研費によるプロジェクトの推進に使用している．
装置担当者：
吉田英人 Tel: 24528 yoshida[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp
