多試料測定用Ｘ線粉末回折装置 (XRD)
共用機器番号：1
装置名：
多試料測定用X線粉末回折装置 PANalytical X’Pert Pro MPD
設置場所：
理学部1号館中央棟 地下1階 B141室 「X線実験室」
原理と特徴：
鉱物が固有の格子間隔を持つ性質を利用して，粉末試料にX線をあて，回折角度ごとの回折X線強度を測定することによって，試料中に含まれる鉱物の同定や含有量の推定を行う．本装置は自動で試料を装填できる機構を備えており，一度に45個の試料が装填できる．
装置担当者：
小林明浩 Tel: 24557 akobayashi[@]eps.s.u-tokyo.ac.jp
